反射式膜厚儀對材料表面起保護(hù),裝飾作用的覆蓋層,如涂層,鍍層,敷層,貼層,化學(xué)生成膜等,在一些國家和國際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層。
覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確要求。
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
反射式膜厚儀的使用注意事項:
1.零點(diǎn)校準(zhǔn)
在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn),因為之前的測量參數(shù)會影響該次對物體的測量,零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測量有參數(shù)的影響,能夠降低測量的結(jié)果的誤差,使測量結(jié)果更加精確。
2.基體厚度不宜過薄
在使用反射式膜厚儀對物體進(jìn)行測量時基體不宜過薄,否則會極大程度的影響儀器的測量精度,造成數(shù)據(jù)結(jié)果不準(zhǔn)確,影響測量過程的正常進(jìn)行。
3.物體表面粗糙程度
對于被測物體的表面不宜太過粗糙,因為粗糙的表面容易引起光的衍射,降低了光學(xué)測量儀的測量精度,造成很大的誤差。所以被測物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑,以保證測量結(jié)果的精確性。