鍍層測厚儀主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
鍍層測厚儀的測量工作原理:
1、磁性測厚法:
適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼鐵銀鎳。此種方法測量精度高(如:鐵等磁性材料)
2、渦流測厚法:
渦流測量原理是高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。與磁感應測厚法一樣,渦流測厚法也達到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。
影響鍍層測厚儀的因素有:
1、試件的變形:丈量頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出牢靠的數(shù)據(jù)。
2、邊緣效應:本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行丈量是不牢靠的。
3、基體金屬電性質(zhì):基體金屬的電導率對丈量有影響,而基體金屬的電導率與其資料成分及熱處理方法有關(guān)。運用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對儀器進行校準。
4、基體金屬厚度:每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,丈量就不受基體金屬厚度的影響。
5、曲率:試件的曲率對丈量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在曲折試件的表面上丈量是不牢靠的。
6、基體金屬磁性質(zhì):磁性法測厚受基體金屬磁性改變的影響(在實踐運用中,低碳鋼磁性的改變能夠認為是輕微的),為了防止熱處理和冷加工因素的影響,應運用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。